O‘lchashning sifat mezonlari. Sifat mezoniga qo‘yiladigan talablar



Yüklə 20,65 Kb.
səhifə2/7
tarix15.05.2022
ölçüsü20,65 Kb.
#87066
1   2   3   4   5   6   7
озбет

Mos keluvchanlik - bir xil sharoitlardagi o‘lchashlarning natijalarini bir-biriga yaqinligini bildiruvchi sifat mezoni. Odatda, o‘lchashlarning mos keluvchanligi tasodifiy xatoliklarning ta’sirini ifodalaydi.

Qaytaruvchanlik- ushbu mezon har xil sharoitlarda (turli vaqtda, har xil joylarda, turli usullarda va vositalarda) bajarilgan o‘lchashlarning natijalarini bir-biriga yaqinligini bildiradi.

O‘lchash xatoligi- o‘lchash natijasini chinakam (haqiqiy) qiymatdan chetlashuvini (og‘ishuvini) ifodalovchi o‘lchashning sifat mezoni.

Metrologiyaning aksiomalari

O‘lchashlar haqidagi fanning tarixi minglab yillarni tashkil etadi. Xalq xo‘jaligida, ishlab chiqarishda qo‘llanilayotgan murakkab tizimlarning yaratilishi o‘z navbatida xususan metrologiya va o‘lchashlar texnikasining har xil sohalarini rivojlanishi istiqbolini ochib bermoqda. O‘lchash haqidagi fanning, ya’ni metrologiyaning rivojlanishi o‘z navbatida universitetimizda informatsion o‘lchash texnikasi va texnologiyasi bo‘yicha ilmiy tadqiqot ishlarini avtomatlashtirish bo‘yicha nazariy metrologiya bo‘yicha yangi o‘quv mutaxassisliklari yo‘nalishlarini ochilishiga sabab bo‘lmoqda. Bu esa albatta, deyarli hamma yo‘nalish mutaxassislarining metrologiya bo‘yicha bilim va ko‘nikmalarini yuqori bosqichga ko‘tarishni taqozo etadi. Shu sababli ilgaridan qo‘llanib kelayotgan kam quvvatli, inertli asboblar sekin-asta juda tezkor, yuqori unumdorli asboblar bilan almashtirilmoqdaki, bu o‘lchash amalini bajarayotgan shaxslarning faoliyatini va albatta tabiiyki ularga qo‘yiladigan talabni ham o‘zgartirmoqda.

Hozirgi kunda o‘lchash jarayonlarini avtomatlashtirilishi, kompyuterlashtirilishi va zamonaviy texnologiyalarning ishlatilishiga faqat programmalashtirilgan tizimga tayangan holda erishish mumkin. Zamonaviy metrologiyaning rivojlanishida murakkab empirik (tanlash, ilg‘ash) metodlarini, ehtimollik nazariyasiga tayangan holda statistik metodlarini qo‘llanilishi katta o‘rin tutmoqdaki, bu metrologiyaning ilmiy asoslarini tashkil etadi.

Ilmiy tadqiqot o‘tkazishda yoki ishlab chiqarishda biror o‘lchashni amalga oshirish uchun, avvalo: 1) nima o‘lchanishi kerak yoki o‘lchash obyekti aniqlanishi kerak va u obyekt qanday fizik kattaliklar orqali harakterlanadi; 2) qanday vosita yordamida o‘lchanadi, ya’ni talab etiladigan natijaga erishish uchun eng optimal (maqbul) variantli o‘lchash vositasini ishlatish zarur va nihoyat; 3) o‘lchash qanday aniqlikda olib borilishi zarur. Boshqacha qilib aytganda, dastavval o‘lchash masalasi aniq belgilanib olinishi kerak.

O‘lchashlar sanoatning qaysi sohasida elektro-energetikadami, mexaniqa sohasidami, tibbiyot sohasidami, ilmiy izlanishdami va xokazo kattaliklarni o‘lchash aniqligiga qo‘yiladigan talablarni umumlashgan holda ma’lumotlar orqali berilishi mumkin.

O‘lchashlarni yuqoridagi majmui albatta yuqori darajada tashkil etilgan va zamonaviy asboblar infrastrukturasi bilan jihozlangan milliy o‘lchash tizimi yordamida hamda o‘lchashlar birliligini, ularning ishonchliligini aniqligini ta’minlash shartlari bajarilishi bilan amalga oshirilishi mumkin.

Har bir fanda bo‘lgani kabi metrologiyada ham talaygina aksiomalarni ko‘rishimiz mumkin. Lekin hozir biz shulardan uchta, eng asosiy va umumiylarini ko‘rib chiqamiz. Ushbu aksiomalar har qanday o‘lchashlar uchun xos bo‘lib, bu o‘lchashlar hoh oddiy, hoh murakkab bo‘lsin, hoh yuzaki, hoh aniq bo‘lsin, hoh tezlashtirilgan, hoh mukammal bo‘lsin, ularning barchasida shu aksiomalarning uyg‘unlashganini ko‘rishimiz mumkin:

1-Aksioma.


Yüklə 20,65 Kb.

Dostları ilə paylaş:
1   2   3   4   5   6   7




Verilənlər bazası müəlliflik hüququ ilə müdafiə olunur ©www.genderi.org 2024
rəhbərliyinə müraciət

    Ana səhifə