Fotometrik analiz usulida zaxarli metallarni aniqlash
I.3. Eritmada o`lchanayotgan moddaga xalaqit beruvchi moddalar bo`lmagan holda uning miqdorini aniqlash usullari
Yüklə 0,59 Mb.
|
| I.3. Eritmada o`lchanayotgan moddaga xalaqit beruvchi moddalar bo`lmagan holda uning miqdorini aniqlash usullari
1.Standart va aniqlanayotgan modda eritilgan eritmalarni optic zichliklarini taqqoslash usuli. Tadqiq qilinayotgan eritmaning ma`lum bir qismini pipetka yordamida olamiz. Unda kimyoviy reaksiyalar o`tkazib, eletromagnit to`lqinlar energiyasini yutuvchi eritma tayyorlaymiz. Shu bilan birga konsentratsiyasi aniqlanayotgan elementni miqdoriga yaqin bo`lgan bir nechta standart eritma tayyorlanadi. Standart va tadqiq qilinayotgan eritmalarning optik zichliklari o`lchaniladi. Tadqiq qilinayotganeritmaning optik zichligi Ax=ελCxlx standart eritmaniki esa Ast=ελCstlst. birinchi ifodani ikkinchisiga bo`lib quyidagiga ega bo`lamiz: Ax/ Ast= ελCxlx/ ελCstlst. Optik zichliklarni bir xil to`lqin uzunlikda va bir xil kyuvetalarda o`lchanishini hisobga olsak Ax/ Ast= Cx/ Cst bundan Cx= Ax Cst/ Ast kelib chiqadi. Shu yo`l bilan tadqiq qilinayotgan eritmadagi moddaning konsentratsiyasi topiladi. Tahlil qilish uchun olingan eritmani hajmini bilib erigan moddaning miqdorini toppish mumkin. 2.Yutilishning molyar koefiitsientining qiymati bo`yicha konsentratsiyasini aniqlash. Tegishli reaktivlar ishlatilib bir nechta standart eritmalar tayyorlanadi. Eng maqbul to`lqin uzunligi tanlangandan so`ng tayyorlangan eritmalarning optic zichliklari o`lchaniladi. Eritmaning konsentratsiyasini va optic zichligini bilib yutilishning molyar koeffitsienti hisoblanadi: ελ=A/CI Olingan natijalardan ελ ning o`rtacha qiymati topiladi. Keyin namunaning o`sha reaktivlar va xuddi shunday sharoitdagi eritmasi tayyorlanadi. Bu eritmaning optic zichligini o`lchab erigan moddaning konsentratsiyasi quyidagi formula orqali topiladi: Cx=Ax/ελl 3.Darajalash grafigi orqali konsentratsiyasini aniqlash. Aniqlanadigan moddani eritib konsentratsiyasi har xil bo`lgan bir qator eritmalar tayyorlanadi. Eng maqbul sharoitlarda, ya`ni tanlangan to`lqin uzunligi va qatlam qalinligida (kyuvetaning qalinligi) bu eritmalarning optic zichliklari o`lchaniladi. Bir xil konsentratsiyali eritmadan kamida uchtadan tayyorlanadi va o`lchangan optic zichliklarning o`rtachasi olinadi. Standart eritmalar uchun tanlangan konsentratsiya oralig`i o`rganilayotgan eritmalar konsentratsiyasini o`zgarish ehtimoli bo`lgan oralig`iga mos kelishi, ya`ni shu oraliqni o`z ichiga olishi kerak. Tanlangan to`lqin uzunligi va yorug`lik yutuvchi qatlamningqalinligida A=f(C) bog`lanish qat`iy bajarilishi zarur. Aniqlanayotgan eritmalar optic zichligi qiymatlarining o`zgarish oralig`i o`lchash natijalari maksimal darajada takrorlanadigan oraliqda (ya`ni A=0,14-1,3) bo`lishi kerak. Olingan natijalar asosida darajalash grafigi tuziladi. So`ngra aniqlanayotgan eritmaning ma`lum qismi alohida quyib olinadi va unga standart eritmalar tayyorlashda ishlatilgan reaktiv qo`shiladi hamda tegishli sharoit yaratilib uning optic zichligi o`lchanadi. Darajalash grafigidan eritma optic zichligining qiymatiga ko`ra aniqlanayotgan moddaning miqdori topiladi. Yüklə 0,59 Mb. Dostları ilə paylaş:
|